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CT扫描

 

缺陷分析 尺寸测量 逆向工程 CAD数模对比

 

CT扫描

 

简介:

三维X射线扫描(CT)采用计算机断层扫描技术,在对被检测物体无损伤的条件下,以二维断层图像或三维立体图像的形式,清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况。

 

目的:

确定产品内部可能存在的缺陷的类型、位置以及尺寸。

 

应用范围:

塑料、陶瓷等复合材料,以及镁、铝和钢原料制成的零件、粘结剂等。

 

测试步骤:

确认样品类型/材料→放置测量装置中→快速扫描→图像整体透视、任意面剖视→缺陷分析

 

典型图片:

缺陷分析

 

缺陷分析

 

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